PCT高壓加速壽命加老化測試試驗箱產品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

PCT高壓加速壽命加老化測試試驗箱
a   型號：PCT—45L
b   內箱尺寸：450x500mm圓形內箱，符合工業標準
c   外箱尺寸：700x650x850mm(W、H、D）
d    容量：       35kg

參數：
a   溫度范圍： 100℃~+132 ℃
b   溫度波動度:±0.5℃           
c   溫度偏差：±1.5 ℃        
e   濕度范圍：100%RH（飽和蒸氣）
f   濕 度波動度：±2.0%RH
j   加壓時間：40分鐘 +132 ℃
h   循環方式：水蒸氣對流循環

四高溫高壓材質：
a  外箱材質：高級不銹鋼
b  內箱材質：SUS316#不銹鋼
c   箱體保溫材質：高級超細玻璃棉
d   單門圓門：門把手在右、內箱壓力愈大時，會有反壓使其與箱體更緊密結合，與傳統擠

壓*不同，可延長packing壽命。

五高溫高壓蒸煮儀安全保護：

a   試驗箱可調試高溫保護
b   壓力限制保護
c   缺水報*保護
d   溫度加熱器保護
e   漏電漏水保護（設置報*）
f   手動泄壓保護，自動泄壓保護
j   切斷電源